儀器應用庫爾特原理（電子感應區原理），顆粒計數及粒度分析儀通過顆粒個體體積測量分析整體樣品的粒度分布與顆粒數目（體積當量粒徑），達到一種“三維”和“個體”兼備的測量能力，實現可測量顆粒真是的粒徑分布，一次分析即可獲得*的分辨率和高度的準確性，并且數目的測量達到zui高度的準確度預計性。歷經半個多世紀的考驗，為一致*的粒度儀。亦為一致認可的粒徑分析標準參考方法。